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AMOLED生产面对的挑战和良率管理

admin 2018-09-12 0
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David Ashiri,奥宝科技(Orbotech)亚太区AOI产品经理,十余年来致力于亚太尤其是中国区市场的显示产品检测技术,尤其是针对柔性AMOLED目前正在高速的扩产,但是面临着重大的良率挑战和良率管理有其独到的想法和见解。

 

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良率提升:挑战与机遇并存

 

如今,小巧、时尚,甚至可以佩戴的电子产品影响着我们生活与沟通的模式。全球的电子设备制造商都在竞争高度激烈的市场上实现批量生产,应对最严苛的智能设备设计提供创新型解决方案。相应的 AMOLED面板生产厂商面临着最为严苛的良率及产能提升的挑战,制程的改进需要持续进行检测和验证。即使是最具丰富经验的制造商也会面临着良率提升和持续盈利的问题。

 

电子行业顶级的设计师们,让电子设备的外观尺寸越来越小,像素设计更加复杂,将会对新的工艺制造提出更高的要求,其中包括在玻璃基板上采用的PI制程, OLED上的TFE、LLO生产的RGB, FMM等工艺,以及ELA制程。并且,从面板生产到验证的制程需要更长的时间。

 

从以下两点进行考量,可提升整体的收益率:

 

1、通过AOI、阵列检查机和修复机提升良率;

 

2、过程监控,更快的学习周期;

 

我们认为在产量管理上须灵活且富有弹性,从而加速学习过程,提高生产效率。

 

显示面板制造一直持续发展,但是产业的游戏规则却在悄然改变,在一些最新的制造工艺当中,像素点设计更小更密集,存在于多层板中关键区域的缺陷,对产能的影响变得更高。

 

就这一点而言,传统的AOI工艺已经不能满足行业的需求,需要AOI设备具备更高的光学分辨率和更高速精准的检测能力。这要求AOI 具备多模态造影技术,可以在一次扫描中使用多波长多角度等不同模式,对每个面板进行多模态光学检测,可以涵盖更广泛的基板材质、线路类型及多种缺陷类型,从而应对不同种类的显示器制造挑战,提高LCD,AMOLED以及柔性面板量产的良率。

 

多态成像技术

 

在整个工艺过程,需要从源头去控制成品率,降低缺陷率。只有这样,在生产过程中才可能对成品率有更好的保证。有时候有一些缺陷是不可能恢复的,如果恢复不了就会对成品率造成很大的影响。

 

相比LCD,柔性的OLED是非常复杂的。它的每一个缺陷都可能是致命的,而缺陷可以来自于不同的工艺、方法和材料。对于AMOLED设备,即使是非常小的缺陷,比如灰尘,微小颗粒等,都可能非常严重,都可能导致整个产品不良。

 

同时,Mura检测对于快速学习流程非常重要,在高解析度扫描下整合并压缩微观影像成为多模态数字化宏观影像,可以对Mura缺陷进行侦测和分类。通过与AOI继承的自动宏观扫描光学系统实现宏观检测,使用低解析度光学组件,多角度和多模态照明,可找出任何细微的Mura缺陷。

 

精准分类技术

 

传统检查缺陷,通常会做扫描,在扫描中会发现很多缺陷,可能会对图像进行审视,去看不同的大小,不同的尺寸,但是这是最简单的一种缺陷分类方式。

 

在光学检查系统中有一个非常重要的概念,就是分类。目前奥宝会去对图像进行检验或者是审视,这样可以发现很多的缺陷并进行缺陷分类和过滤。

 

David认为,对柔性的AMOLED,传统的方式是不可以持续的,对于AOI缺陷达到几百个,没有办法处理这么多的缺陷,这时就需要提高缺陷分类效率。

 

奥宝的AOI在不同的光源下做检测,在扫描的时候就会去对缺陷进行分类,使用强大的计算机和软件算法及高精准度识别不同类型的缺陷,所有的致命缺陷都会进入判定的阶段。这样的工作方式可以提高修复率,并且可以按照客户的要求进行很好的筛查和分类以及检验。

 

结语:

 

灵活的AMOLED显示制造给良率管理带来了挑战,生产管理者们需要积极应对新应用、新材料和新工艺使得制造复杂性增加,使用多态成像技术可以实现先进的检测和分类,奥宝的AOI,阵列检查机,修复机和数据管理解决方案组合可有效提高生产效率和产能。30多年来,奥宝致力于构建电子产品设计师与制造商之间的桥梁,实现设计师的梦想,同时解决制造商面对的挑战和难题,使其确保高产能,低拥有成本,实现持续互利共赢。

 

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